機器利用料金
本事業の主旨として利用者に相応の料金（機器利用、技術補助）をご負担いただきます。
- 合成部門装置
- 解析部門装置
金額は、1時間当たりの税込み価格（円）です。
装置の保守管理上、初回の場合はレクチャーを受けていただくことをお願いしております。
※レクチャー対応時間は「技術代行料」の料金が適用になります。
装置の保守管理上、初回の場合はレクチャーを受けていただくことをお願いしております。
※レクチャー対応時間は「技術代行料」の料金が適用になります。
| 設備ID | 枝番 | 装置名 | 機種 | データ有
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データ有
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データ無
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データ無
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備考 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| KU-501 | 1 | 電子状態測定システム | AXIS-ULTRA （島津製作所） |
3,000 | 6,500 | 3,600 | 7,700 | |
| KU-503 | 1 | 表面・界面分子振動解析装置 | Spectra-Physics （東京インスツルメンツ） |
1,600 | 5,100 | 1,900 | 6,000 | |
| KU-504 | 1 | 高速レーザーラマン顕微鏡 | RAMANtouch （ナノフォトン） |
2,200 | 5,500 | 2,600 | 6,400 | |
| KU-505 | 1 | 紫外可視近赤外分光測定装置 | V-670 （日本分光） |
1,700 | 5,000 | 2,000 | 5,800 | |
| 2 | UV-Vis-NIR分光光度計 | SolidSpec-3700DUV （島津製作所） |
680 | 4,000 | 800 | 4,700 |
窒素ガスを使用する場合は、実費徴収とする。 |
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| 3 | 中赤外・遠赤外吸収測定装置 | Spectrum400 FT-IR/FIR SpotLight400 IRイメージング （パーキンエルマージャパン） |
750 | 4,200 | 890 | 5,000 | ||
| KU-506 | 1 | 超高速HPLC分離・分子構造分析システム | nexeraX2 （島津製作所） micrOTOF-QIII （Bruker） CD J-1500 （日本分光） DLS-8000DL （大塚電子） |
2,100 | 5,400 | 2,500 | 6,400 | |
| 2 | 分取HPLCシステム | LC-908-C60 （日本分析工業） |
4,700 | 8,000 | 5,600 | 9,500 | ||
| KU-507 | 2 | 近赤外蛍光分光装置 | NanoLOG-EXT （堀場JOBIN YVON） |
1,200 | 4,400 | 1,400 | 5,200 | |
| KU-508 | 1 | 核磁気共鳴吸収装置 | AVANCE NEO 400 (BRUKER) |
3,500 | 6,400 | 4,100 | 7,500 | |
| KU-509 | 1 | MALDI-TOF-MS 質量分析装置 |
Autoflex max （Bruker） |
2,600 | 5,400 | 3,000 | 6,400 | |
| 2 | 分離用小型超遠心機 | CS100GXL （日立工機） |
360 | 3,700 | 430 | 4,300 | ||
| KU-510 | 3 | 走査型プローブ顕微鏡 | SPM9600 （島津製作所） |
1,300 | 4,600 | 1,500 | 5,400 | |
| 5 | 環境制御型多機能走査プローブ顕微鏡 | SPI3800N （エスアイアイ・ナノテクノロジー） |
420 | 3,900 | 500 | 4,600 | ||
| KU-511 | 1 | 超高分解能走査電子顕微鏡 | SU9000 （日立ハイテクノロジーズ） |
1,700 | 5,000 | 2,000 | 5,900 | |
| 2 | 3次元SEM画像測定解析システム | VE-8800 （KEYENCE） |
1,200 | 4,500 | 1,500 | 5,300 | ||
| KU-512 | 1 | 透過型電子顕微鏡システム | JEM-2010 （日本電子） |
980 | 4,300 | 1,200 | 5,100 | |
| 2 | ウルトラミクロトーム | EM UC7 （Leica） |
1,700 | 4,700 | 2,000 | 5,500 | ||
| 3 | マイクロ構造観察電子顕微鏡システム | 大気圧走査電子顕微鏡 JASM-6200 （日本電子） |
3,300 | 6,700 | 3,900 | 7,900 | ||
| KU-513 | 1 | ゼータ電位／粒径測定システム | ELSZ-2 （大塚電子） |
1,300 | 4,500 | 1,500 | 5,300 | |
| KU-514 | 1 | 全自動水平型多目的Ｘ線回折装置 | SmartLab （リガク） |
2,500 | 5,800 | 3,000 | 6,900 | |
| 2 | 単結晶X線解析装置 | MicroMax-007HF （リガク） |
950 | 3,900 | 1,200 | 4,600 | ||
| 3 | 小角X線散乱装置 | NANO-Viewer KMYC （リガク） |
1,100 | 4,000 | 1,300 | 4,700 | ||
| KU-516 | 分子構造解析システム | 360 | 3,700 | 420 | 4,300 | |||
| KU-517 | 1 | ナノ炭素燃料電池評価システム | 自動CV型燃料電池評価システム AutoPEM-ER02 燃料電池評価システムAutoPEM-ER01 （東陽テクニカ） 高精度ホットプレス SA-501 （テスター産業） |
390 | 3,900 | 470 | 4,600 | |
| 2 | 触媒活性表面測定システム | 自動比表面積/細孔分布測定装置 BELSORP-mini Ⅱ 触媒分析装置 BELCAT-B （日本ベル） |
440 | 3,900 | 520 | 4,600 | ||
| 3 | ガス吸着装置 | BELSORP-max-12-SP （マイクロトラックベル） |
450 | 4,900 | 530 | 5,800 | ||
| KU-518 | 1 | CCDマルチICP発光分光分析装置 | ARCOS EOP 130 (独国SPECTRO) |
3,100 | 5,600 | 3,600 | 6,600 | |
| KU-519 | 1 | マイクロカロリメーター | PEAQ-ITC （MicroCal） |
2,400 | 5,200 | 2,800 | 6,100 | |
| 90 | 分子・物質合成支援 | 1,600 | 1,900 | |||||
金額は、1時間当たりの税込み価格（円）です。
装置の保守管理上、初回の場合はレクチャーを受けていただくことをお願いしております。
※レクチャー対応時間は「技術代行料」の料金が適用になります。
※レクチャー対応時間は「技術代行料」の料金が適用になります。
※技術補助料：本学職員の技術補助を必要とする場合、支援の程度（A,B2通り）に応じ、各機器利用料に加算
| 設備ID | 枝番 | 装置名 | 利用単位 | 機器利用料 データ有 |
機器利用料 データ無 |
技術補助料A （※利用装置の操作経験がある方に限ります） |
技術補助料B |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| KU-001 | 電子分光型超高圧分析電子顕微鏡 | 1枠（4時間） | 17,000 | 21,000 | 本学の職員が操作の補助及び操作方法の指導を行いながら、利用者自身が機器を操作する場合 5,100
|
利用者の立会いと指示のもと、本学の職員が機器を操作する場合 11,000
|
|
| KU-002 | 収差補正走査/透過電子顕微鏡 | 1枠（4時間） | 16,000 | 19,000 | |||
| KU-003 | マイクロカロリーメーター高エネルギー分解能元素分析装置 | 1枠（4時間） | 8,400 | 9,900 | |||
| KU-004 | 広電圧超高感度原子分解能電子顕微鏡 | 1枠（4時間） | 17,000 | 20,000 | |||
| KU-005 | デュアルビームFIB-SEM加工装置 | 1枠（4時間） | 14,000 | 16,000 | |||
| KU-006 | 直交型FIB-SEM | 1枠（4時間） | 20,000 | 24,000 | |||
| KU-007 | 収差補正高分解能電子顕微鏡 | 1枠（4時間） | 18,000 | 21,000 | |||
| KU-009 | ハイコントラスト補助電子顕微鏡 | 1枠（4時間） | 6,700 | 7,900 | |||
| KU-010 | 三次元原子分解能透過電子顕微鏡 | 1枠（4時間） | 31,000 | 37,000 | |||
| KU-011 | 三次元走査電子顕微鏡 | 1枠（4時間） | 20,000 | 23,000 | |||
| KU-012 | デュアルビーム微細加工電子顕微鏡 | 1枠（4時間） | 19,000 | 22,000 | |||
| KU-013 | キセノンプラズマ集束イオンビーム加工・走査電子顕微鏡複合機 | 1枠（4時間） | 71,000 | 87,000 | |||
| KU-014 | 1 | （Arイオン研磨装置） PIPSⅡ M 695 | 1枠（4時間） | 1,200 | 1,400 | 利用者本人に操作いただくため、技術補助はありません | |
| 3 | （Arイオン研磨装置） NanoMill Model1040 | 1枠（4時間） | 1,200 | 1,400 | |||
| 4 | （Arイオン研磨装置） イオンスライサー EM-09100IS | 1枠（4時間） | 1,200 | 1,400 | |||
| KU-015 | 1 | （コーティング装置）イオンコーター JFC-1600 | 1回 | 560 | 660 | 利用者本人に操作いただくため、技術補助はありません | |
| 2 | （コーティング装置）カーボンコーター EC-32010CC | 1回 | 560 | 660 | |||
| KU-016 | 低温域観測型・高分解能電子顕微鏡 | 1枠（4時間） | 75,000 | 89,000 | 本学の職員が操作の補助及び操作方法の指導を行いながら、利用者自身が機器を操作する場合
5,100
|
利用者の立会いと指示のもと、本学の職員が機器を操作する場合
11,000
|
|
| KU-018 | イオンビーム・電子ビーム複合型精密加工分析装置 | 1枠（4時間） | 27,000 | 33,000 | |||
| KU-019 | 汎用電子顕微鏡 | 1枠（4時間） | 9,900 | 12,000 | |||
※技術補助料：本学職員の技術補助を必要とする場合、支援の程度（A,B2通り）に応じ、各機器利用料に加算
※KU-006・KU018は大規模データ収集のため、上記の通常枠（1・2枠）を超える長時間の使用も可能です。希望される場合はご相談ください。
- 合成部門装置
- 解析部門装置