設備詳細-解析部門装置-

電子分光型超高圧分析電子顕微鏡

メーカー・型番

日本電子
JEM-1300NEF
 

仕様

オメガ型エネルギーフィルター搭載の超高圧電顕、最高加速電圧1300kV
  • 設置場所　超顕微解析研究センターCE20棟
 

設備利用料金

利用単位：1枠（4時間） 　※本学職員による技術補助が必要な場合は、機器利用料に技術補助料を加算
機器利用料(データ提供有) 17,000円　　 機器利用料(データ提供無) 21,000円　　　
技術補助料A 5,100円　　 技術補助料B 11,000円　　　
 　技術補助A：本学の職員が操作の補助及び操作方法の指導を行いながら、利用者自身が機器を操作する場合（利用装置の操作経験がある方のみ）
　 技術補助B：利用者の立会いと指示のもと、本学の職員が機器を操作する場合
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収差補正走査/透過電子顕微鏡

メーカー・型番

日本電子
JEM-ARM200F
 

仕様

照射系・結像系の収差補正、EDS/EELSによる高感度組成・状態分析
  • 設置場所　超顕微解析研究センターCE21棟
 

設備利用料金

利用単位：1枠（4時間） 　※本学職員による技術補助が必要な場合は、機器利用料に技術補助料を加算
機器利用料(データ提供有) 16,000円　　 機器利用料(データ提供無) 19,000円　　　
技術補助料A 5,100円　　 技術補助料B 11,000円　　　
 　技術補助A：本学の職員が操作の補助及び操作方法の指導を行いながら、利用者自身が機器を操作する場合（利用装置の操作経験がある方のみ）
　 技術補助B：利用者の立会いと指示のもと、本学の職員が機器を操作する場合
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マイクロカロリーメーター高エネルギー分解能元素分析装置

メーカー・型番

日立ハイテクサイエンス、カールツァイス
Zeiss-ULTRA55 ＋ SII-TES
 

仕様

超伝導転移端検出器による高感度組成・状態分析
  • 設置場所　超顕微解析研究センターCE21棟
 

設備利用料金

利用単位：1枠（4時間） 　※本学職員による技術補助が必要な場合は、機器利用料に技術補助料を加算
機器利用料(データ提供有) 8,400円　　 機器利用料(データ提供無) 9,900円　　　
技術補助料A 5,100円　　 技術補助料B 11,000円　　　
 　技術補助A：本学の職員が操作の補助及び操作方法の指導を行いながら、利用者自身が機器を操作する場合（利用装置の操作経験がある方のみ）
　 技術補助B：利用者の立会いと指示のもと、本学の職員が機器を操作する場合
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広電圧超高感度原子分解能電子顕微鏡

メーカー・型番

日本電子
JEM-ARM200CF
 

仕様

照射系・結像系の収差補正、EDS/EELSによる高感度組成・状態分析、加速電圧：30, 60, 80, 120, 200kV
  • 設置場所　超顕微解析研究センターCE21棟
 

設備利用料金

利用単位：1枠（4時間） 　※本学職員による技術補助が必要な場合は、機器利用料に技術補助料を加算
機器利用料(データ提供有) 17,000円　　 機器利用料(データ提供無) 20,000円　　　
技術補助料A 5,100円　　 技術補助料B 11,000円　　　
 　技術補助A：本学の職員が操作の補助及び操作方法の指導を行いながら、利用者自身が機器を操作する場合（利用装置の操作経験がある方のみ）
　 技術補助B：利用者の立会いと指示のもと、本学の職員が機器を操作する場合
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デュアルビームFIB-SEM加工装置

メーカー・型番

サーモフィッシャーサイエンテ ィフィック
FEI Quanta 200 3D
 

仕様

観察+FIB加工、マイクロサンプリング
  • 設置場所　超顕微解析研究センターCE21棟
 

設備利用料金

利用単位：1枠（4時間） 　※本学職員による技術補助が必要な場合は、機器利用料に技術補助料を加算
機器利用料(データ提供有) 14,000円　　 機器利用料(データ提供無) 16,000円　　　
技術補助料A 5,100円　　 技術補助料B 11,000円　　　
 　技術補助A：本学の職員が操作の補助及び操作方法の指導を行いながら、利用者自身が機器を操作する場合（利用装置の操作経験がある方のみ）
　 技術補助B：利用者の立会いと指示のもと、本学の職員が機器を操作する場合
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直交型FIB-SEM

メーカー・型番

日立ハイテクノロジーズ
MI4000L
 

仕様

直交型FIB-SEM、3次元組織解析
  • 設置場所　超顕微解析研究センターCE21棟
 

設備利用料金

利用単位：1枠（4時間） 　※本学職員による技術補助が必要な場合は、機器利用料に技術補助料を加算
機器利用料(データ提供有) 20,000円　　 機器利用料(データ提供無) 24,000円　　　
技術補助料A 5,100円　　 技術補助料B 11,000円　　　
 　技術補助A：本学の職員が操作の補助及び操作方法の指導を行いながら、利用者自身が機器を操作する場合（利用装置の操作経験がある方のみ）
　 技術補助B：利用者の立会いと指示のもと、本学の職員が機器を操作する場合
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収差補正高分解能電子顕微鏡

メーカー・型番

日本電子
JEM-ARM200F
 

仕様

走査歳差運動照射電子回折SPEDによる結晶方位解析
  • 設置場所　筑紫キャンパス 総合研究棟 地下室
 

設備利用料金

利用単位：1枠（4時間） 　※本学職員による技術補助が必要な場合は、機器利用料に技術補助料を加算
機器利用料(データ提供有) 18,000円　　 機器利用料(データ提供無) 21,000円　　　
技術補助料A 5,100円　　 技術補助料B 11,000円　　　
 　技術補助A：本学の職員が操作の補助及び操作方法の指導を行いながら、利用者自身が機器を操作する場合（利用装置の操作経験がある方のみ）
　 技術補助B：利用者の立会いと指示のもと、本学の職員が機器を操作する場合
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ハイコントラスト補助電子顕微鏡

メーカー・型番

日本電子
JEM-2100HCKM
 

仕様

組織観察/電子解析図形収集の汎用機、加速電圧：100,120,200kV
  • 設置場所　超顕微解析研究センターCE21棟
 

設備利用料金

利用単位：1枠（4時間） 　※本学職員による技術補助が必要な場合は、機器利用料に技術補助料を加算
機器利用料(データ提供有) 6,700円　　 機器利用料(データ提供無) 7,900円　　　
技術補助料A 5,100円　　 技術補助料B 11,000円　　　
 　技術補助A：本学の職員が操作の補助及び操作方法の指導を行いながら、利用者自身が機器を操作する場合（利用装置の操作経験がある方のみ）
　 技術補助B：利用者の立会いと指示のもと、本学の職員が機器を操作する場合
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三次元原子分解能透過電子顕微鏡

メーカー・型番

サーモフィッシャーサイエンティフィック
Titan G2 60-300
 

仕様

電子銃モノクロメータ、トモグラフィー
  • 設置場所　筑紫キャンパス マイクロ波計測実験棟
 

設備利用料金

利用単位：1枠（4時間） 　※本学職員による技術補助が必要な場合は、機器利用料に技術補助料を加算
機器利用料(データ提供有) 31,000円　　 機器利用料(データ提供無) 37,000円　　　
技術補助料A 5,100円　　 技術補助料B 11,000円　　　
 　技術補助A：本学の職員が操作の補助及び操作方法の指導を行いながら、利用者自身が機器を操作する場合（利用装置の操作経験がある方のみ）
　 技術補助B：利用者の立会いと指示のもと、本学の職員が機器を操作する場合
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三次元走査電子顕微鏡

メーカー・型番

サーモフィッシャーサイエンティフィック
Scios DualBeam
 

仕様

3次元組織解析
  • 設置場所　筑紫キャンパス マイクロ波計測実験棟
 

設備利用料金

利用単位：1枠（4時間） 　※本学職員による技術補助が必要な場合は、機器利用料に技術補助料を加算
機器利用料(データ提供有) 20,000円　　 機器利用料(データ提供無) 23,000円　　　
技術補助料A 5,100円　　 技術補助料B 11,000円　　　
 　技術補助A：本学の職員が操作の補助及び操作方法の指導を行いながら、利用者自身が機器を操作する場合（利用装置の操作経験がある方のみ）
　 技術補助B：利用者の立会いと指示のもと、本学の職員が機器を操作する場合
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デュアルビーム微細加工電子顕微鏡

メーカー・型番

サーモフィッシャーサイエンティフィック
Versa3D DualBeam
 

仕様

観察+FIB加工、マイクロサンプリング
  • 設置場所　筑紫キャンパス 総合理工学研究院 C棟
 

設備利用料金

利用単位：1枠（4時間） 　※本学職員による技術補助が必要な場合は、機器利用料に技術補助料を加算
機器利用料(データ提供有) 19,000円　　 機器利用料(データ提供無) 22,000円　　　
技術補助料A 5,100円　　 技術補助料B 11,000円　　　
 　技術補助A：本学の職員が操作の補助及び操作方法の指導を行いながら、利用者自身が機器を操作する場合（利用装置の操作経験がある方のみ）
　 技術補助B：利用者の立会いと指示のもと、本学の職員が機器を操作する場合
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キセノンプラズマ集束イオンビーム加工・走査電子顕微鏡複合機

メーカー・型番

サーモフィッシャーサイエンティフィック
Helios 5 Hydra DualBeam
 

仕様

イオン源4種（Xe, Ar, O, N）、SIMS分析
  • 設置場所　筑紫キャンパス マイクロ波計測実験棟
 

設備利用料金

利用単位：1枠（4時間） 　※本学職員による技術補助が必要な場合は、機器利用料に技術補助料を加算
機器利用料(データ提供有) 71,000円　　 機器利用料(データ提供無) 87,000円　　　
技術補助料A 5,100円　　 技術補助料B 11,000円　　　
 　技術補助A：本学の職員が操作の補助及び操作方法の指導を行いながら、利用者自身が機器を操作する場合（利用装置の操作経験がある方のみ）
　 技術補助B：利用者の立会いと指示のもと、本学の職員が機器を操作する場合
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（Arイオン研磨装置）PIPSⅡ M 695

メーカー・型番

Gatan
Gatan PIPS II M 695
 

仕様

円盤状電顕試料の作製
  • 設置場所　超顕微解析研究センターCE21棟
 

設備利用料金

利用単位：1枠（4時間） 　
機器利用料(データ提供有) 1,200円　　 機器利用料(データ提供無) 1,400円　　　
 ※利用者本人に操作いただくため、技術補助はありません
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（Arイオン研磨装置）NanoMill Model1040

メーカー・型番

Fischione
Fischione NanoMill Model1040
 

仕様

FIB試料の表面精密仕上げ
  • 設置場所　超顕微解析研究センターCE21棟
 

設備利用料金

利用単位：1枠（4時間） 　
機器利用料(データ提供有) 1,200円　　 機器利用料(データ提供無) 1,400円　　　
 ※利用者本人に操作いただくため、技術補助はありません
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（Arイオン研磨装置）イオンスライサー　EM-09100IS

メーカー・型番

日本電子
JEOL ION SLICER EM-09100IS
 

仕様

Arイオン照射による薄膜試料作製
  • 設置場所　超顕微解析研究センターCE21棟
 

設備利用料金

利用単位：1枠（4時間） 　
機器利用料(データ提供有) 1,200円　　 機器利用料(データ提供無) 1,400円　　　
 ※利用者本人に操作いただくため、技術補助はありません
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（コーティング装置）イオンコーター　JFC-1600

メーカー・型番

日本電子
JEOL JFC-1600
 

仕様

絶縁物のTEM・SEM観察の前処理
  • 設置場所　超顕微解析研究センターCE21棟
 

設備利用料金

利用単位：1回　
機器利用料(データ提供有) 560円　　 機器利用料(データ提供無) 660円　　　
 ※利用者本人に操作いただくため、技術補助はありません
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（コーティング装置）カーボンコーター　EC-32010CC

メーカー・型番

日本電子
JEOL EC-32010CC
 

仕様

絶縁物のTEM・SEM観察の前処理
  • 設置場所　超顕微解析研究センターCE21棟
 

設備利用料金

利用単位：1回　
機器利用料(データ提供有) 560円　　 機器利用料(データ提供無) 660円　　　
 ※利用者本人に操作いただくため、技術補助はありません
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低温域観測型・高分解能電子顕微鏡

メーカー・型番

日本電子
JEM-ARM300F2
 

仕様

低温域での高分解能電顕観察　加速電圧：80, 200, 300ｋV
  • 設置場所　超顕微解析研究センターCE21棟
 

設備利用料金

利用単位：1枠（4時間） 　※本学職員による技術補助が必要な場合は、機器利用料に技術補助料を加算
機器利用料(データ提供有) 75,000円　　 機器利用料(データ提供無) 89,000円　　　
技術補助料A 5,100円　　 技術補助料B 11,000円　　　
 　技術補助A：本学の職員が操作の補助及び操作方法の指導を行いながら、利用者自身が機器を操作する場合（利用装置の操作経験がある方のみ）
　 技術補助B：利用者の立会いと指示のもと、本学の職員が機器を操作する場合
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イオンビーム・電子ビーム複合型精密加工分析装置

メーカー・型番

サーモフィッシャーサイエンティフィック
Helios 5 UX
 

仕様

FIBによる電顕試料の調製、モノクロメータSEMによる形態観察、EBSDによる方位解析
  • 設置場所　超顕微解析研究センターCE21棟
 

設備利用料金

利用単位：1枠（4時間） 　※本学職員による技術補助が必要な場合は、機器利用料に技術補助料を加算
機器利用料(データ提供有) 27,000円　　 機器利用料(データ提供無) 33,000円　　　
技術補助料A 5,100円　　 技術補助料B 11,000円　　　
 　技術補助A：本学の職員が操作の補助及び操作方法の指導を行いながら、利用者自身が機器を操作する場合（利用装置の操作経験がある方のみ）
　 技術補助B：利用者の立会いと指示のもと、本学の職員が機器を操作する場合
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汎用電子顕微鏡

メーカー・型番

日本電子
JEM-2100F
 

仕様

組織観察、元素分析、電子解析図形収集の汎用機
  • 設置場所　超顕微解析研究センターCE21棟
 

設備利用料金

利用単位：1枠（4時間） 　※本学職員による技術補助が必要な場合は、機器利用料に技術補助料を加算

機器利用料(データ提供有) 9,900円　　 機器利用料(データ提供無) 12,000円　　　
技術補助料A 5,100円　　 技術補助料B 11,000円　　　
 　技術補助A：本学の職員が操作の補助及び操作方法の指導を行いながら、利用者自身が機器を操作する場合（利用装置の操作経験がある方のみ）
　 技術補助B：利用者の立会いと指示のもと、本学の職員が機器を操作する場合
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