設備ID | 枝番 | 装置名 | 機種 | 入力データシート | 測定結果ファイル 保存形式 (エクスポート形式) |
測定条件 保存形式 (メタデータ) |
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KU-501 | 1 | 電子状態測定システム | AXIS-ULTRA (島津製作所) |
KU-501-1_AXIS-ULTRA ver 2.xlsx | Vamas形式(*.vms) AxisUltra.doc |
なし |
KU-503 | 1 | 表面・界面分子振動解析装置 | Spectra-Physics (東京インスツルメンツ) |
KU-503-1_SFG ver 2.xlsx | *.txt | なし |
KU-504 | 1 | 高速レーザーラマン顕微鏡 | RAMANtouch (ナノフォトン) |
KU-504-1_RAMANtouch ver 2.xlsx | スペクトルデータ:*.npg2 画像データ:*.npi2 Raman touch.doc |
なし |
KU-505 | 1 | 紫外可視近赤外分光測定装置 | V-670 (日本分光) |
KU-505-1_V-670 ver 2.xlsx | *.dx V670.doc |
なし |
2 | UV-Vis-NIR分光光度計 | SolidSpec-3700DUV (島津製作所) |
KU-505-2_SolidSpec-3700DUV ver 2.xlsx | *.txt Solidspec3700DUV.doc |
*.txt | |
3 | 中赤外・遠赤外吸収測定装置 | Spectrum400 FT-IR/FIR SpotLight400 IRイメージング (パーキンエルマージャパン) |
KU-505-3_Spectrum400 FT-IR・FIR SpotLight400 IRイメージング ver 2.xlsx | *.dx | なし | |
KU-506 | 1 | 超高速HPLC分離・分子構造分析システム | nexeraX2 (島津製作所) |
KU-506-1_nexeraX2 ver 2.xls | *.txt | なし |
micrOTOF-QIII (Bruker) |
KU-506-2_micrOTOF-QIII(Bruker) ver 2.xlsx | *.ascii | なし | |||
CD J-1500 (日本分光) |
KU-506-1(3)_JASCOCD-J1500 ver 2.xlsx | *.txt (JCAMP-DX形式) (エックスポート時のデータ区切りコード:”タブ”) | なし | |||
DLS-8000DL (大塚電子) |
KU-506-1(4)DLS8000DL ver2.xlsx | 粒径モニターテーブル.xps 1/4スケール分布プロット.xps DLS8000(粒径).docx |
解析条件.xps | |||
2 | 分取HPLCシステム | LC-908-C60 (日本分析工業) |
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KU-507 | 2 | 近赤外蛍光分光装置 | NanoLOG-EXT (堀場JOBIN YVON) |
KU-507-2_NanoLOG-EXT ver 2.xlsx | *.txt (エックスポート時のデータ区切りコード:”タブ”) | *.opj |
KU-508 | 1 | 核磁気共鳴吸収装置 | AVANCE NEO 400 (BRUKER) |
KU-508-1_AVANCE NEO 400 ver 2.xlsx | Bruker出力方式のフォルダ (四階層からなるフォルダー構成)をzipに圧縮したファイル | なし |
KU-509 | 1 | MALDI-TOF-MS質量分析装置 | Autoflex max (Bruker) |
KU-509-1_MALDITOFAutoflex max ver 2.xlsx | 出力フォルダをzipに圧縮したファイル | なし |
2 | 分離用小型超遠心機 | CS100GXL (日立工機) |
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KU-510 | 3 | 走査型プローブ顕微鏡 | SPM9600 (島津製作所) |
KU-510-3_SPM-9600 ver 2.xlsx | 画像ファイル:*.dib | 撮影情報ファイル:*.txt |
5 | 環境制御型多機能走査プローブ顕微鏡 | SPI3800N (エスアイアイ・ナノテクノロジー) |
KU-510-5_SPI3800N ver 2.xlsx | *.xqp あるいは *.xqd | なし | |
KU-511 | 1 | 超高分解能走査電子顕微鏡 | SU9000 (日立ハイテクノロジーズ) |
KU-511-1_SU9000 ver 2.xlsx | 画像ファイル:*.jpg | 撮影情報ファイル:*.txt |
2 | 3次元SEM画像測定解析システム | VE-8800 (KEYENCE) |
KU-511-2_VE-8800 ver 2.xlsx | 画像ファイル:*.tif | 撮影情報ファイル:*.txt | |
KU-512 | 1 | 透過型電子顕微鏡システム | JEM-2010 (日本電子) |
KU-512-1_JEM-2010 ver 2.xlsx | 画像ファイル:*.dm3 | なし |
2 | ウルトラミクロトーム | EM UC7 (Leica) |
KU512-2ウルトラミクロトーム ver 2.xlsx | なし (画像があれば、*.jpg、*.tif) | なし | |
3 | マイクロ構造観察電子顕微鏡システム | 大気圧走査電子顕微鏡 JASM-6200 (日本電子) |
KU-512-3_JASM-6200 ver 2.xlsx | 画像ファイル:*. tif |
撮影情報ファイル:*.txt | |
KU-513 | 1 | ゼータ電位/粒径測定システム | ELSZ-2 (大塚電子) |
KU-513-1_ELSZ-2 ver 2.xlsx | ゼータ電位(4種類)ファイル名:3Dグラフ.txt、ピークデータテーブル.txt、代表プロット.txt、自己相関グラフ.txt ELSZ-2(Zeta).docx 粒系測定(4種類)ファイル名完全一致必須:個数分布.txt、散乱強度分布.txt、自己相関関数.txt、体積分布.txt ELSZ-2(粒径).doc |
ファイル名:条件一覧.pdf ファイル名:条件一覧.pdf |
KU-514 | 1 | 全自動水平型多目的X線回折装置 | SmartLab (リガク) |
KU-514-1_SmartLab ver 2.xlsx | *.ras | なし |
2 | 単結晶X線解析装置 | MicroMax-007HF (リガク) |
KU-514-2_X線単結晶解析 ver 2.xlsx | 構造解析後の*.cif | なし | |
3 | 小角X線散乱装置 | NANO-Viewer KMYC (リガク) |
KU-514-3XAXSLver 2.xlsx | *.img | なし | |
KU-516 | 分子構造解析システム | |||||
KU-517 | 1 | ナノ炭素燃料電気評価システム | 自動CV型燃料電池評価システム AutoPEM-ER02 燃料電池評価システムAutoPEM-ER01 (東陽テクニカ) 高精度ホットプレス SA-501 (テスター産業) |
KU-517-1 ナノ炭素燃料電池評価システム.xlsx | ||
2 | 触媒活性表面測定システム | 自動比表面積/細孔分布測定装置 BELSORP-mini Ⅱ |
KU-517-2 触媒活性表面測定システム ver 2.xlsx | *.DAT ガス吸着測定(Mini).doc |
なし | |
触媒分析装置 BELCAT-B (日本ベル) |
*.CSV 触媒分析装置BELCAT.docx |
なし | ||||
3 | ガス吸着装置 | BELSORP-max-12-SP (マイクロトラックベル) |
KU-517-3_BELSORP-max-12-SP ver 3.xlsx | *.DAT ガス吸着測定(Max).doc |
なし | |
KU-518 | 1 | CCDマルチICP発光分光分析装置 | ARCOS EOP 130 (独国SPECTRO) |
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KU-519 | 1 | マイクロカロリメーター | PEAQ-ITC (MicroCal) |