設備紹介
共同利用できる機器は、センター管理の所管装置と各部局が管理し、所定の手続きによりセンターの共同利用機器として登録された部局管理装置があります。
- 合成部門装置
- 解析部門装置
| 設備ID | 枝番 | 装置名 | 型番（メーカー名） | 設置場所 | |
|---|---|---|---|---|---|
| KU-501 | 1 | 電子状態測定システム | AXIS-ULTRA （島津製作所） |
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伊都キャンパス ウエスト3号館 116 |
| KU-503 | 1 | 表面・界面分子振動解析装置 | Spectra-Physics （東京インスツルメンツ） |
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伊都キャンパス ウエスト3号館 310 |
| KU-504 | 1 | 高速レーザーラマン顕微鏡 | RAMANtouch （ナノフォトン） |
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伊都キャンパス ウエスト3号館 607 |
| 3 | プローブ型顕微ラマン分光測定装置 | RAMAN RXN Systems （カイザーオプティカルシステムズ） |
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伊都キャンパス ウエスト3号館 607 |
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| KU-505 | 1 | 紫外可視近赤外分光測定装置 | V-670 （日本分光） |
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伊都キャンパス ウエスト3号館 607 |
| 2 | UV-Vis-NIR分光光度計 | SolidSpec-3700DUV （島津製作所） |
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伊都キャンパス ウエスト3号館 115 |
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| 3 | 中赤外・遠赤外吸収測定装置 | Spectrum400 FT-IR/FIR SpotLight400 IRイメージング （パーキンエルマージャパン） |
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伊都キャンパス ウエスト3号館 113 |
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| KU-506 | 1 | 超高速HPLC分離・分子構造分析システム | NexeraX2 （島津製作所） |
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伊都キャンパス ウエスト3号館 114 |
| micrOTOF-QIII （Bruker） |
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伊都キャンパス ウエスト3号館 114 |
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| CD J-1500 （日本分光） |
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伊都キャンパス ウエスト3号館 113 |
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| DLS-8000DL （大塚電子） |
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伊都キャンパス ウエスト3号館 113 |
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| 2 | 分取HPLCシステム | LC-908-C60 （日本分析工業） |
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伊都キャンパス ウエスト3号館 213 |
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| KU-507 | 2 | 近赤外蛍光分光装置 | NanoLOG-EXT （堀場JOBIN YVON） |
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伊都キャンパス ウエスト3号館 612 |
| KU-508 | 1 | 核磁気共鳴吸収装置 | AVANCE NEO 400 (BRUKER) |
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伊都キャンパス ウエスト3号館 109 |
| KU-509 | 1 | MALDI-TOF MS質量分析装置 | Autoflex max （Bruker） |
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伊都キャンパス ウエスト3号館 114 |
| 2 | 分離用小型超遠心機 | CS100GXL （日立工機） |
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伊都キャンパス ウエスト3号館 612 |
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| KU-510 | 3 | 走査型プローブ顕微鏡 | SPM9600 （島津製作所） |
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伊都キャンパス ウエスト3号館 113 |
| 5 | 環境制御型多機能走査プローブ顕微鏡 | SPI3800N （エスアイアイ・ナノテクノロジー） |
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伊都キャンパス ウエスト3号館 111 |
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| KU-511 | 1 | 超高分解能走査電子顕微鏡 | SU9000 （日立ハイテクノロジーズ） |
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伊都キャンパス ウエスト3号館 114 |
| 2 | 3次元SEM画像測定解析システム | VE-8800 （KEYENCE） |
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伊都キャンパス ウエスト3号館 114 |
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| KU-512 | 1 | 透過型電子顕微鏡システム | JEM-2010 （日本電子） |
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伊都キャンパス ウエスト3号館 112 |
| 2 | ウルトラミクロトーム | EM UC7 （Leica） |
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伊都キャンパス ウエスト3号館 116 |
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| 3 | マイクロ構造観察電子顕微鏡システム | 大気圧走査電子顕微鏡 JASM-6200 （日本電子） |
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伊都キャンパス ウエスト3号館 114 |
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| KU-513 | 1 | ゼータ電位／粒径測定システム | ELSZ-2 （大塚電子） |
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伊都キャンパス ウエスト3号館 607 |
| KU-514 | 1 | 全自動水平型多目的Ｘ線回折装置 | SmartLab （リガク） |
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伊都キャンパス ウエスト3号館 115 |
| 2 | 単結晶X線解析装置 | MicroMax-007HF （リガク） |
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伊都キャンパス ウエスト3号館 115 |
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| 3 | 小角X線散乱装置 | NANO-Viewer KMYC （リガク） |
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伊都キャンパス ウエスト3号館 115 |
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| KU-516 | 1 | 分子構造解析システム |  |
伊都キャンパス ウエスト3号館 115 |
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| KU-517 | 1 | ナノ炭素燃料電池評価システム | 自動CV型燃料電池評価システム AutoPEM-ER02型、 燃料電池評価システム AutoPEM-ER01型 （東陽テクニカ） |
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伊都キャンパス ウエスト4号館 112 |
| 高精度ホットプレス SA-501 （テスター産業） |  |
伊都キャンパス ウエスト3号館 115 |
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| 2 | 触媒活性表面測定システム | 自動比表面積/細孔分布測定装置 BELSORP-mini Ⅱ 触媒分析装置 BELCAT-B （日本ベル） |
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伊都キャンパス ウエスト3号館 112 |
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| 3 | ガス吸着装置 | BELSORP-max-12-SP （マイクロトラックベル） |
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伊都キャンパス ウエスト3号館 112 |
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| KU-518 | 1 | CCDマルチICP発光分光分析装置 | ARCOS EOP 130 (独国SPECTRO) |
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伊都キャンパス ウエスト3号館 116 |
| KU-519 | 1 | マイクロカロリメーター | PEAQ-ITC （MicroCal） |
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伊都キャンパス ウエスト3号館 113 |
| 設備ID | 枝番 | 装置名 | 型番（メーカー名） | 設置場所 | |
|---|---|---|---|---|---|
| KU-001 | 電子分光型超高圧分析電子顕微鏡 | JEM-1300NEF（日本電子） |  |
超顕微解析研究センターCE20棟 | |
| KU-002 | 収差補正走査/透過電子顕微鏡 | JEM-ARM200F（日本電子） |  |
超顕微解析研究センターCE21棟 | |
| KU-003 | マイクロカロリーメーター高エネルギー分解能元素分析装置 | Zeiss-ULTRA55 ＋ SII-TES（日立ハイテクサイエンス、カールツァイス） |  |
超顕微解析研究センターCE21棟 | |
| KU-004 | 広電圧超高感度原子分解能電子顕微鏡 | JEM-ARM200CF（日本電子） |  |
超顕微解析研究センターCE21棟 | |
| KU-005 | デュアルビームFIB-SEM加工装置 | FEI Quanta 200 3D（サーモフィッシャーサイエンティ フィック） |  |
超顕微解析研究センターCE21棟 | |
| KU-006 | 直交型FIB-SEM | MI4000L（日立ハイテクノロジーズ） |  |
超顕微解析研究センターCE21棟 | |
| KU-007 | 収差補正高分解能電子顕微鏡 | JEM-ARM200F（日本電子） |  |
筑紫キャンパス 総合研究棟 地下室 |
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| KU-009 | ハイコントラスト補助電子顕微鏡 | JEM-2100HCKM（日本電子） |  |
超顕微解析研究センターCE21棟 | |
| KU-010 | 三次元原子分解能透過電子顕微鏡 | Titan G2 60-300（サーモフィッシャーサイエンティ フィック） |  |
筑紫キャンパス マイクロ波計測実験棟 |
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| KU-011 | 三次元走査電子顕微鏡 | Scios DualBeam（サーモフィッシャーサイエンティ フィック |  |
筑紫キャンパス マイクロ波計測実験棟 |
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| KU-012 | デュアルビーム微細加工電子顕微鏡 | Versa3D DualBeam（サーモフィッシャーサイエンティ フィック） |  |
筑紫キャンパス 総合理工学研究院 C棟 |
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| KU-013 | キセノンプラズマ集束イオンビーム加工・走査電子顕微鏡複合機 | Helios 5 Hydra DualBeam（サーモフィッシャーサイエンティ フィック） |  |
筑紫キャンパス マイクロ波計測実験棟 |
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| KU-014 | 1 | （Arイオン研磨装置） PIPSⅡ M 695 | Gatan PIPSⅡ M 695（Gatan） |  |
超顕微解析研究センターCE21棟 |
| 3 | （Arイオン研磨装置） NanoMill Model1040 | Fischione NanoMill Model1040（Fischione） |  |
超顕微解析研究センターCE21棟 | |
| 4 | （Arイオン研磨装置） イオンスライサー EM-09100IS | JEOL ION SLICER EM-09100IS（日本電子） |  |
超顕微解析研究センターCE21棟 | |
| KU-015 | 1 | （コーティング装置）イオンコーター JFC-1600 | JEOL JFC-1600（日本電子） |  |
超顕微解析研究センターCE21棟 |
| 2 | （コーティング装置）カーボンコーター EC-32010CC | JEOL EC-32010CC（日本電子） |  |
超顕微解析研究センターCE21棟 | |
| KU-016 | 低温域観測型・高分解能電子顕微鏡 | JEM-ARM300F2（日本電子） | .jpg) |
超顕微解析研究センターCE21棟 | |
| KU-018 | イオンビーム・電子ビーム複合型精密加工分析装置 | Helios 5 UX（サーモフィッシャーサイエンテ ィフィック） | .jpg) |
超顕微解析研究センターCE21棟 |
- 合成部門装置
- 解析部門装置