装置一覧

  装置名 仕様 機器管理者
(設置場所)
写真
1 1-1 X線光電子分光分析装置
アルバック・ファイ社製 
ESCA 5800

Mg X線源: 最小分析領域:φ75µm, Al-モノクロX線源: 分解能:0.48eV, イオン種:Ar、特殊帯電中和機能付、フローティング型イオンガン 金属ナノ粒子の金属錯体の組成分析、自己組織化 単分子膜の組成分析、高分子固体表面の元素分析

君塚 信夫

W3-112
2 2-1 電子状態測定システム
島津製作所社製 
AXIS-ULTRA

測定範囲10~1500 eVを25meV以下のステップ、分析面積15μmφ~、Mg/AlデュアルX線源、出力~450W、イオンポンプ、真空到達度10-10 Pa Arエッチング可能、予備室内での加熱処理対応、大面積試料バーで複数試料の同時マウントが可能

藤ヶ谷 剛彦

W3-116
3 3-1 動的二次イオン質量分析測定装置
Analysetechnik GmbH社製ATOMIKA SIMS 4000

質量分析計:四重極型、
一次イオンビームソース:酸素とアルゴン、
加速電圧:3k -15 kV、
測定面積:250μm - 1000μm、
深さ分解能:7 - 8nm ポリマーアロイの膜厚方向の組織解析、界面厚の評価、分子鎖末端基あるいは側鎖の膜厚方向分布

田中 敬二

W3-212

4
4-1 表面・界面分子振動解析装置
東京インスツルメンツ社製SpeSpectra-Physics  

検出器:STREAK SCOPE C4334(浜松ホトニクス)/検出器:光電子増倍管(浜松ホトニクス)/ピコ秒YAGレーザー(EKSPLA社)
励起パルス幅:1.5 ps
励起波長:400 nm付近、偏光オプション付
測定範囲:1500~4000 cm-1

田中 敬二

W3-310
5 5-1 高速レーザーラマン顕微鏡
ナノフォトン社製 
Raman-touch

倒立顕微鏡ベースの光学系。InGaAs検出器での近赤外発光同視野測定を実現。

・励起レーザー4本搭載(532nm、633nm、785nm)
・回折限界に迫る350nmの空間分解能・ラインスキャンによる超高速イメージング
・100 cm-1から測定可能・z方向1ミクロンの高い空間分解能
・スペクトル分解能(FWHM)=1.2cm-1 (@785nm、1200gr/mm)
藤ヶ谷 剛彦

W3-607

5
5-3 プローブ型顕微ラマン分光測定装置
カイザーオプティカルシステムズ社製
RAMAN RXN Systems

HoloPlexTM透過型グレーティング、ノッチフィルター使用F値:1.8 搭載レーザー 785nm/400mW 検出器 電子冷却CCD検出器 測定波長範囲 100~3450cm-1 分解 4cm-1

藤ヶ谷 剛彦

W3-115
6 6-1 レーザラマン分光光度計
日本分光社製 NRS-3100KK

時間変化,偏光測定対応
波長範囲:50~8,000 cm-1 
分解能:1 cm-1
励起レーザー波長:532 nm, 785 nm

君塚 信夫

W3-114
7 7-1 UV-Vis-NIR分光光度計

島津製作所社製SolidSpec-3700DUV

測定波長 165~2600nm(但し積分球測定は175nm~) 分解能0.1nm、大型鏡面反射測定,積分球ユニット(固体測定),直接測光ユニット(液体測定)深紫外領域測定対応、InGaAs検出器搭載、温度制御セルチェンジャー対応可能(多量サンプル測定可能)、測定温度制御可能

藤ヶ谷 剛彦

W3-115
7 7-2 中赤外・遠赤外吸収測定装置
PerkingElmer社製
SpotLight400 IR/FIR イメージングシステム

ラインスキャンによる高速IRイメージング。

ATRプローブによる顕微ATR測定、遠赤外領域のATR測定対応

プローブによるポイント反射・透過IR測定も可能。

測定範囲7800~650 cm-1 、4500~680 cm-1でのATR測定 

赤外顕微鏡 (イメージング機能)、イメージング分解能6.25 μm~ 

藤ヶ谷 剛彦

W3-115
8 8-1 紫外可視近赤外分光測定置
日本分光社製 V-670

Abs=7まで測定可能、積分球対応、測定温度制御可能、

固体、液体サンプル測定可能、

積分球を用いた拡散反射スペクトル測定可能

藤ヶ谷 剛彦

W3-607
9 9-1 超高速HPLC分離・分子構造分析システム

HPLC:島津製作nexeraX2

MS:Bruker micrOTOF-QIII

CD:日本分光 J-1500

静的光散乱検出器:
大塚電子 DLS-8000DL

超高速分離可能な最新HPLCに分光検出器、電気化学検出器、質量分析検出器、光散乱検出器をインライン連結し、合成分子の分離と構造完全決定を可能にするシステム
・HPLC・・・130MPaの高耐圧化した超高速HPLC。PDA検出器装備
・MS・・・イオン化モード ESI,APCI 精密質量測定,MS/MS可。超高速HPLCの流速に追随可能なESI-MS検出器。
・CD(円二色性検出器)・・・163~1600nm Wプリズムモノクロで迷光0.0003%以下。電気化学フローセルに接続した電気化学計測検出器。
・DLS8000・・・静的光散乱 重量平均分子量3*102~2*107。動的光散乱による粒径測定1.4nm~7μm,レーザー He/Ne,Ar+。絶対分子量測定可能な多角度静的光散乱検出器

藤ヶ谷 剛彦

W3-113




10 10-1 近赤外蛍光分光装置 
堀場製作所社製 Fluorolog-NIR
測定範囲:800-1600nm(300-850nmも測定可能) 
オプションとして温度制御付きセル冷却装置(液体窒素により冷却)を装着可能
古田 弘幸

W3-708
11 11-1 近赤外蛍光分光装置 
堀場JOBIN YVON社製NanoLOG-EXT

スペクトル並びに励起光―発光イメージング可能

測定温度制御可能励起:700-1000nm,
蛍光:1100-2000 Nm

カーボンナノチューブのカイラリティ測定など、近赤外域に発光を有する半導体材料評価に最適

藤ヶ谷 剛彦

W3-612
13 13-1 核磁気共鳴測定装置
Bruker社製 
Avance 500MHz
感度:13C≧2500:1(ASTM)
1H ≧3000:1 (0.1%エチルベンゼン、over 200 Hz noise)
パルス幅:13Cパルス幅≦10μs
 1Hパルス幅≦10μs
測定核:1H、13C
温度範囲: 0℃~+80℃
久枝 良雄

W3-109
14 14-1 質量分析装置
JEOL社製 
JMS-T100CS
ESI/CSI兼用測定可能
低温(-100℃)におけるイオン化
久枝 良雄

W3-210
15 15-1 MALDI-TOF質量分析装置
BRUKER社製
Autoflex III

リニアモードでのタンパクサンプルに対する1,000以上の分解能

および100ppm以下の質量数精度。
ペプチド質量数範囲に対する<5ppmの優れた質量数精度(リフレクトロンモード)

三木 里香

W3-114
15 15-2 分離用小型超遠心機
日立工機㈱製
himac CS100GXL
最高回転数100,000rpm,
最大遠心加速度604,000xg
藤ヶ谷 剛彦

W3-612
15
15-3 分取HPLCシステム
日本分析工業社製
LC-908-C60
2H、4Hカラム装備
分取HPLCシステム(グラムオーダーの分取が可能)
大型のカラム接続によるサンプルの大量分取が可能
1回のインジェクション量は10 mL
藤ヶ谷 剛彦

W3-213
16 16-1 走査型プローブ顕微鏡 
アジレントテクノロジー社製
PicoPlus 5500

水平分解能:0.14 nm
垂直分解能:0.01 nm

ラテックス、エマルジョン、ミセル、ゲル、ゾル、タンパク、核酸、ウィルス、多糖、リポソーム、ベシクル、細胞,無機高分子、セラミックス、磁性体、金属  コロイドの形態観察

君塚 信夫

W3-113
16 16-2 表面抵抗率計
三菱化学社製 
Loresta-GP
4端子4探針法 定電流印加方式、
測定レンジ:10-3~107Ω
直列4探針プローブ
サンプル形状から体積低効率および伝導率算出可能
藤ヶ谷 剛彦

W3-612
16
16-3 表面形状測定装置
Vecco社製 
Dektak 6M
垂直方向分解能 1Å~40Å 安達千波矢

共進化社会
システム
イノベーション
施設
 3F 311
17 17-1 走査型プローブ顕微鏡
島津製作所社製 SPM-9600
分解能 水平0.2nm 垂直0.01nm
測定モード :コンタクト、ダイナミック、位相 
藤ヶ谷 剛彦

W3-113
17 17-2 走査型プローブ顕微鏡測定システム
Veeco社製 nanoscopeIIIa   
測定モード:S11(複素反射係数)dC/dV
周波数:2GHz~6GHz
キャバシタンス:1.2aF
ダイナミックレンジ:1014㎤~1020㎤
空間分解能:2nm以下
カンチレバー:固体金属プローブ
スキャンレンジ:XY軸 90μ×90μm以上 Z軸8μm以上
藤ヶ谷 剛彦

W3-605
19 19-1 環境制御型多機能走査
プローブ顕微鏡

エスアイアイ・ナノテクノロジー社製
SPI3800N
環境:大気中、液中、真空中、ガス雰囲気 温度制御: 自動加熱・冷却(-120~250℃) 位相、摩擦、粘弾性、電流、etc. 田中 敬二

W3-111
20 20-1 超高分解能走査電子顕微鏡
日立ハイテクノロジーズ社製
SU9000
・SEM(空間分解能0.4nm)とSTEM(空間分解能0.34nm)の高分解能同視野観察
・30kV以下の低加速観察
・コールドFE電子銃
・EDSによる高解像度元素マッピング
・含水サンプルの凍結観察、個体表面における原子の分布を高分解能マッッピング
藤ヶ谷 剛彦

W3-114
20 20-2 3次元SEM画像測定解析システム
KEYENCE社製 
VE-980

加速電圧0.5-20kV

さまざまな有機/無機/複合材料表面構造解析低加速電圧観察可能(0.5 kV)、非導電性試料でも非蒸着で観察可能(サンプル依存)に

より試料最表面の微細構造解析可能、測定真空度は3-260MPaで最高分解能30 nm

藤ヶ谷 剛彦

W3-114
21
21-1 走査型電子顕微鏡
日立社製 S-5000

分解能:1.5nm(15kV)、5.0nm(1kV)倍率:20~1000,000倍
試料サイズ:最大10mm 
加圧電圧:0.5kV~30kV 
ナノからマイクロの像を得ることが可能

君塚 信夫

W3-114
22
22-1 透過型電子顕微鏡システム
日本電子社製 JEM-2010 
最高加速電圧:200kV、点分解能:0.23nm、加速電圧:120, 200kV 藤ヶ谷 剛彦

W3-112
22 22-2 マイクロ構造観察電子顕微鏡システム
日本電子社製 
大気圧走査電子顕微鏡 JASM-6200
・液中観察(大気圧下観察)
・×10~100,000倍観察
・明視野、蛍光観察 (光学顕微鏡)
・電磁2段ズームコンデンサレンズ
藤ヶ谷 剛彦

W3-114
23 23-1 ゼータ電位/粒径測定システム
大塚電子株式会社製
ELSZ-2

測定粒径 d=0.6nm7μm,ゼータ電位 0.001~40%広濃度対応

基板表面ゼータ電位測定可能広い粒子径測定範囲(0.6-7000nm)

希薄濃度から濃厚濃度範囲(0.001-40%)

平板試料用セルを用いた基板・フィルムのゼータ電位測定可能

藤ヶ谷 剛彦

W3-607
24 24-1 ゼータサイザーゼータ電位・粒子径・分子量測定装置
マルバーン社製 
Nano-Zs

ゼータ電位 3nm~10mm

粒子および分子径、平行拡散、電気泳動移動度、高濃度および低濃度での粒子のゼータ電位、タンパク質およびポリマー溶液の粘度および粘弾性、濃度、分子量、A2, kD。ナノ粒子、コロイド、およびタンパク質の特性評価
粒子 / 分子径、絶対分子量、ゼータ電位
後藤 雅宏

W3-514
25 25-1 動的光散乱測定装置
Malvern社製 
Zetasizer Nano ZS 
粒径分布、ゼータポテンシャル、分子量測定 片山 佳樹

W3-501
26 26-1 全自動水平型多目的X線回折装置
リガク社製
SmartLab

小角散乱アタッチメントで0.1°からの測定可能(小角分解能0.1°/2θ)2次元半導体検出器 CALSA 超高分解スパイラルアナライザ

粉末サンプルの定性分析・結晶化度評価・結晶子サイズ可能

藤ヶ谷 剛彦

W3-115
27 27-1 単結晶X線構造解析装置
Bruker社製 
SMART APEX
CCD搭載
複雑な錯体等の有機化合物の構造を高感度、高精度で極めて短時間のうちに解析可能
久枝 良雄

W3-204

28 28-1 マイクロカロリメトリー
Micro Cal社製 
VP-ITC

生体物質の相互作用分析
測定温度範囲 2~80℃、
セル容積 200 μl、滴定量 0.1~40 μl

藤ヶ谷 剛彦

総合研究棟
2F-208
28 28-2 蒸気圧式絶対分子量測定装置
Gonotec社製
OSMOMAT 070
測定分子量:トルエン:50~50,000 Dalton (g/mol) 純水:50~5,000 Dalton (g/mol) 君塚 信夫

W3-113
28 28-3 蒸気圧式分子量測定装置
KNAUER社製
Vapor Pressure Osmometer K-7000
測定分子量 水:< 10,000 g/mol,
有機溶媒:40-40,000 g/mol
小江 誠司

W3-904
29 29-1 分子構造解析システム 生体分子や高分子材料のシミュレーションおよび可視化のために必要なシステムを、並列コンピューティングおよびGPUコンピューティングにより稼働している。非経験的分子軌道法、密度汎関数理論計算プログラム、分子動力学といった様々な手法によるモデリング、計算、解析が可能である。  藤ヶ谷 剛彦

W3-115
30 30-1 ナノ炭素燃料電池評価システム
東陽テクニカ社製
(自動CV型燃料電池評価システム AutoPEM-ER02型、燃料電池評価システム AutoPEM-ER01型 テスター産業 高精度ホットプレス SA-501)
燃料供給装置H2ガス1000 Ncc/min ~、Air 2000 Ncc/min~)
DC分極電圧5 V~、電流±2 A~、自動電圧スイープ6 mV~60 V/min
測定分解能:電流~1pA,電圧~1μV
藤ヶ谷 剛彦

W4-112
30 30-2 触媒活性表面測定システム
日本ベル社製 
自動比表面積/細孔分布測定装置
BELSORP-miniⅡ 
触媒分析装置 BELCAT-B
定容法 (比表面積:0.01 m2/g~、細孔径分布0.7~200 nm)
 圧力計5台、0~133kPa、±0.25%
 圧力分解能 4Pa
 流通法 (室温~1200 ℃) TCD検出器
藤ヶ谷 剛彦

工学系総合
研究棟104
31 31-1 太陽電池特性評価システム
分光計器社製 
SRO-25GD
光源:キセノンランプ 500W
波長範囲:300~1150 nm
白色光(AM1.5G)照射によるI-V測定
単色光照射による分光感度特性(量子効率)測定
安田 琢磨

稲盛フロンティア研究センター 302