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(九州大学ナノテクプラットフォーム事務局宛て)


機器利用のみ  ,技術代行  ,機器利用(+補助)  ,共同研究  ,


X線光電子分光分析装置 アルバック・ファイ社製 ESCA 5800電子状態測定システム 島津製作所社製 AXIS-ULTRA動的二次イオン質量分析測定装置 Analysetechnik GmbH社製ATOMIKA SIMS 4000表面・界面分子振動解析装置 東京インスツルメンツ社製Spectra-Physics高速レーザーラマン顕微鏡 ナノフォトン Raman-toucプローブ型顕微ラマン分光測定装置 カイザーオプティカルシステムズ製RAMAN RXN Systemsレーザラマン分光光度計  NRS-3100 日本分光社製 NRS-3100KKUV-Vis-NIR分光光度計 島津製作所社製SolidSpec-3700DUV中赤外・遠赤外吸収測定装置 パーキンエルマージャパン製Spectrum400 FT-IR/FIR SpotLight400 IRイメージング紫外可視近赤外分光測定装置 日本分光社製V-670超高速HPLC分離・分子構造分析システム超高速液体クロマトグラフ 島津製作所nexeraX2Bruker micrOTOF-QIII円二色性分散計 日本分光J-1500ダイナミック光散乱光度計(粒径・分子量) 大塚電子 DLS-8000DL近赤外蛍光分光装置 Fluorolog-NIR 堀場製作所社製 Fluorolog-NIR近赤外蛍光分光装置 NanoLOG-EXT 堀場JOBIN YVON社製NanoLOG-EXT核磁気共鳴測定装置 Bruker社製 Avance 500MHz質量分析装置 JEOL社製 JMS-T100CSMALDI-TOF質量分析装置  BRUKER社製 Autoflex III分離用小型超遠心機 日立工機社製CS100GXL分取HPLCシステム 日本分析工業社製LC-908-C60走査型プローブ顕微鏡 PicoPlus 5500 アジレントテクノロジー社製 PicoPlus 5500表面抵抗率計 三菱化学社製 Loresta-GP表面形状測定装置 Vecco社製Dektak 6M走査型プローブ顕微鏡 SPM9600 島津製作所社製SPM9600走査型プローブ顕微鏡測定システム Veeco社製nanoscopeIIIa環境制御型多機能走査プローブ顕微鏡 エスアイアイ・ナノテクノロジー社製SPI3800N超高分解能走査電子顕微鏡 日立ハイテクノロジーズ SU90003次元SEM画像測定解析システム KEYENCE VE-9800走査型電子顕微鏡  S-5000  日立社製 S-5000透過型電子顕微鏡システム 日本電子社製 JEM-2010マイクロ構造観察電子顕微鏡システム 日本電子社製 大気圧走査電子顕微鏡 JASM-6200ゼータ電位/粒径測定システム 大塚電子ELS-Zゼータサイザーゼータ電位・粒子径・分子量測定装置 マルバーン社製Nano ZS動的光散乱測定装置 Malvern社製 Zetasizer Nano ZS全自動水平型多目的X線回折装置 リガク社製SmartLab単結晶X線構造解析装置 Bruker社製 SMART APEXマイクロカロリメトリー MicroCal社 VP-ITC蒸気圧式絶対分子量測定装置 Gonotec社製 OSMOMAT 070蒸気圧式分子量測定装置 KNAUER社製Vapor Pressure Osmometer K-7000ナノ炭素燃料電池評価システム 東陽テクニカ社製触媒活性表面測定システム 日本ベル社製 BELSORP-miniⅡ太陽電池特性評価システム 分光計器社製 SRO-25GD