設備利用ー申し込みフォーム

装置利用申請を行います。
九州大学ナノテクプラットフォーム事務局よりご返信致します。

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機器利用のみ機器利用(+補助)技術代行共同研究


●表面分析装置
・X線光電子分光分析装置 
アルバック・ファイ ESCA 5800 (1-1)
・電子状態測定システム
島津製作所 AXIS-ULTRA(2-1)
・動的二次イオン質量分析測定装置
Analysetechnik GmbH ATOMIKA SIMS 4000(3-1)

●分光分析装置
・表面・界面分子振動解析装置
東京インスツルメンツ Spectra-Physics(4-1)
・高速レーザーラマン顕微鏡
ナノフォトン RAMANtouch(5-1)
・プローブ型顕微ラマン分光測定装置
Kaiser RAMAN RXN Systems(5-3)
・レーザラマン分光光度計 
日本分光 NRS-3100KK(6-1)
・UV-Vis-NIR分光光度計
島津製作所 SolidSpec-3700DUV(7-1)
・中赤外・遠赤外吸収測定・ FT-IRイメージング装置
PerkinElmer Spectrum400、SpotLight400(7-2)
・紫外可視近赤外分光測定装置
日本分光 V-670(8-1)
・円二色性分散計
日本分光 J-1500(9-1)
・近赤外蛍光分光装置 
堀場JOBIN YVON Fluorolog-NIR(10-1)
堀場JOBIN YVON NanoLOG-EXT(11-1)

●超高速HPLC分離・分子構造分析システム
・超高速液体クロマトグラフ
島津製作所 nexeraX2(9-1) 
・ESI/CSI-TOF-Mass質量分析装置
Bruker micrOTOF-QIII(9-1)
・円二色性分散計
日本分光 J-1500(9-1)
・ダイナミック光散乱光度計(粒径・分子量)
大塚電子 DLS-8000DL(9-1)

●分子構造・分子量・解析装置
・核磁気共鳴測定装置
Bruker Avance 500MHz(13-1)
・ESI/CSI質量分析装置
JEOL JMS-T100CS(14-1)
・MALDI-TOF質量分析装置 
BRUKER Autoflex III(15-1)
・ESI/CSI-TOF-Mass質量分析装置
Bruker micrOTOF-QIII(9-1)

●分離・精製装置
・分離用小型超遠心機
日立工機 CS100GXL(15-2)
・超高速液体クロマトグラフ
島津製作所 nexeraX2(9-1) 
・分取HPLCシステム
日本分析工業 LC-908-C60(15-3)

●顕微鏡・表面物性解析装置
・走査型プローブ顕微鏡 
アジレントテクノロジー PicoPlus 5500(16-1)
・表面抵抗率計
三菱化学 Loresta-GP(16-2)
・表面形状測定装置
Vecco Dektak 6M(16-3)
・走査型プローブ顕微鏡 
島津製作所 SPM9600(17-1)
・走査型プローブ顕微鏡測定システム
Veeco nanoscopeIIIa(17-2)
・環境制御型多機能走査プローブ顕微鏡
エスアイアイ・ナノテクノロジー SPI3800N(19-1)
・超高分解能走査電子顕微鏡
日立ハイテクノロジーズ SU9000(20-1)
・3次元SEM画像測定解析システム
KEYENCE VE-9800(20-2)
・走査型電子顕微鏡
日立 S-5000(21-1)
・透過型電子顕微鏡システム
日本電子 JEM-2010(22-1)
・マイクロ構造観察電子顕微鏡システム・大気圧走査電子顕微鏡
日本電子 JASM-6200(22-2)

●ゼータ電位・粒径・分子量解析装置
・ゼータ電位/粒径測定システム
大塚電子 ELSZ-2(23-1)
・ゼータサイザーゼータ電位・粒子径・分子量測定装置
Malvern Nano ZS(24-1)
・動的光散乱測定装置
Malvern Zetasizer Nano ZS(25-1)
・ダイナミック光散乱光度計(粒径・分子量)
大塚電子 DLS-8000DL(9-1)

●X線回折装置
・全自動水平型多目的X線回折装置
リガク SmartLab(26-1)
・単結晶X線構造解析装置
Bruker SMART APEX(27-1)

●マイクロカロリメトリー・蒸気圧式分子量測定装置
・マイクロカロリメトリー
MicroCal VP-ITC(28-1)
・蒸気圧式絶対分子量測定装置
Gonotec OSMOMAT 070(28-2)
・蒸気圧式分子量測定装置
KNAUER K-7000(28-3)

●電池・触媒評価装置
・ナノ炭素燃料電池評価システム
 ・自動CV型燃料電池評価システム 
東陽テクニカ AutoPEM-ER02型(30-1)
 ・燃料電池評価システム 
東陽テクニカ AutoPEM-ER01型(30-1)
 ・高精度ホットプレス
テスター産業 SA-501(30-1)
・触媒活性表面測定システム
 ・自動比表面積/細孔分布測定装置
 日本ベル BELSORP-miniⅡ(30-2)
 ・触媒分析装置 
 日本ベル BELCAT-B(30-2)
・太陽電池特性評価システム
分光計器 SRO-25GD(31-1)