設備詳細-合成部門装置-

設備利用料金は全て1時間当たりの税込み価格です。

電子状態測定システム

メーカー・型番

島津製作所
AXIS-ULTRA DLD
 

仕様

  • 測定範囲10～1500 eVを25 meV以下のステップ
  • 分析面積15 μmφ～
  • Mg/AlデュアルX線源、出力～450 W
  • イオンポンプ、真空到達度10-10 Pa
  • Arエッチング可能
  • 予備室内での加熱処理対応
  • 大面積試料バーで複数試料の同時マウントが可能
  • 元素マッピング可能  
  • 設置場所　伊都キャンパス ウエスト3号館 116
 

設備利用料金

データ提供「有」　利用料 3,000円 データ提供「有」　技術代行料 6,500円
データ提供「無」　利用料 3,600円 データ提供「無」　技術代行料 7,700円
 
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表面・界面分子振動解析装置

メーカー・型番

東京インスツルメンツ
Spectra-Physics
 

仕様

  • 検出器：STREAK SCOPE C4334（浜松ホトニクス）/検出器：光電子増倍管（浜松ホトニクス）
  • ピコ秒YAGレーザー(EKSPLA社)
  • 励起パルス幅：1.5 ps
  • 励起波長：400 nm付近、偏光オプション付き
  • 測定範囲：1500～4000 cm-1
  • 設置場所　伊都キャンパス ウエスト3号館 310
 

設備利用料金

データ提供「有」　利用料 1,600円 データ提供「有」　技術代行料 5,100円
データ提供「無」　利用料 1,900円 データ提供「無」　技術代行料 6,000円
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高速レーザーラマン顕微鏡

メーカー・型番

ナノフォトン
RAMANtouch
 

仕様

  • 倒立顕微鏡ベースの光学系。InGaAs検出器での近赤外発光同視野測定を実現
  • 励起レーザー3本搭載 （532 nm、633 nm、785 nm）
  • 回折限界に迫る350 nmの空間分解能
  • ラインスキャンによる超高速イメージング
  • 100 cm-1から測定可能
  • z方向1ミクロンの高い空間分解能
  • スペクトル分解能 （FWHM）＝1.2cm-1 （@785 nm、1200 gr/mm）
  • 設置場所　伊都キャンパス ウエスト3号館 607
 

設備利用料金

データ提供「有」　利用料 2,200円 データ提供「有」　技術代行料 5,500円
データ提供「無」　利用料 2,600円 データ提供「無」　技術代行料 6,400円
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紫外可視近赤外分光測定装置

メーカー・型番

日本分光
V-670
 

仕様

  • Abs=7まで測定可能、積分球対応、液体測定温度制御可能
  • 固体、液体サンプル測定可能
  • 積分球を用いた拡散反射スペクトル測定可能
  • 設置場所　 伊都キャンパス ウエスト3号館 607
 

設備利用料金

データ提供「有」　利用料 1,700円 データ提供「有」　技術代行料 5,000円
データ提供「無」　利用料 2,000円 データ提供「無」　技術代行料 5,800円
 
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UV-Vis-NIR分光光度計

メーカー・型番

島津製作所
SolidSpec-3700DUV
 

仕様

  • 測定波長　165～3300 nm（但し積分球測定は175 nm～2600 nm）
  • 分解能 0.1nm
  • 大型鏡面反射測定，積分球ユニット（固体測定）
  • 直接測光ユニット（液体測定）深紫外領域測定対応、InGaAs検出器搭載
  • 温度制御セルチェンジャー対応可能（多量サンプル測定可能）、測定温度制御可能
  • 設置場所　 伊都キャンパス ウエスト3号館 115
 

設備利用料金

データ提供「有」　利用料 680円 データ提供「有」　技術代行料 4,000円
データ提供「無」　利用料 800円 データ提供「無」　技術代行料 4,700円
 
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中赤外・遠赤外吸収測定装置

メーカー・型番

パーキンエルマージャパン
Spectrum400 FT-IR/FIR SpotLight400 IRイメージング
 

仕様

  • ラインスキャンによる高速IRイメージング
  • ATRプローブによる顕微ATR測定、遠赤外領域のATR測定対応
  • プローブによるポイント反射・透過IR測定も可能
  • 測定範囲7800～650 cm-1 、4500～680 cm-1でのATR測定
  • 赤外顕微鏡（イメージング機能）、イメージング分解能6.25 μm～
  • 設置場所　 伊都キャンパス ウエスト3号館 113
 

設備利用料金

データ提供「有」　利用料 750円 データ提供「有」　技術代行料 4,200円
データ提供「無」　利用料 890円 データ提供「無」　技術代行料 5,000円
 
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超高速HPLC分離・分子構造分析システム

メーカー・型番

島津製作所
NexeraX2
 

仕様

  • 130 MPaの高耐圧化した超高速HPLC
  • PDA検出器装備
  • 設置場所　 伊都キャンパス ウエスト3号館 114
 

設備利用料金

データ提供「有」　利用料 2,100円 データ提供「有」　技術代行料 5,400円
データ提供「無」　利用料 2,500円 データ提供「無」　技術代行料 6,400円
 
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メーカー・型番

Bruker
micrOTOF-QIII
 

仕様

  • イオン化モード　ESI，APCI　
  • 精密質量測定，MS/MS可
  • 設置場所　 伊都キャンパス ウエスト3号館 114
 

設備利用料金

データ提供「有」　利用料 2,100円 データ提供「有」　技術代行料 5,400円
データ提供「無」　利用料 2,500円 データ提供「無」　技術代行料 6,400円
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メーカー・型番

日本分光
CD（円二色性検出器）J-1500
 

仕様

  • 163～1600 nm　Wプリズムモノクロで迷光0.0003%以下
  • 電気化学フローセルに接続した電気化学計測検出器
  • 設置場所　 伊都キャンパス ウエスト3号館 113
 

設備利用料金

データ提供「有」　利用料 2,100円 データ提供「有」　技術代行料 5,400円
データ提供「無」　利用料 2,500円 データ提供「無」　技術代行料 6,400円
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メーカー・型番

大塚電子
DLS-8000DL
 

仕様

  • 静的光散乱　重量平均分子量3*102～2*107
  • 動的光散乱による粒径測定1.4 ～ 7μm，レーザー　He/Ne，Ar+
  • 絶対分子量測定可能な多角度静的光散乱検出器
  • 設置場所　 伊都キャンパス ウエスト3号館 113
 

設備利用料金

データ提供「有」　利用料 2,100円 データ提供「有」　技術代行料 5,400円
データ提供「無」　利用料 2,500円 データ提供「無」　技術代行料 6,400円
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分取HPLCシステム

メーカー・型番

日本分析工業
LC-908-C60
 

仕様

  • ２H、４Hカラム装備
  • 分取HPLCシステム（グラムオーダーの分取が可能）
  • 大型のカラム接続によるサンプルの大量分取が可能
  • １回のインジェクション量は10 mL  
  • 設置場所　 伊都キャンパス ウエスト3号館 213
 

設備利用料金

データ提供「有」　利用料 4,700円 データ提供「有」　技術代行料 8,000円
データ提供「無」　利用料 5,600円 データ提供「無」　技術代行料 9,500円
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近赤外蛍光分光装置

メーカー・型番

堀場JOBIN YVON
NanoLOG-EXT
 

仕様

  • スペクトル並びに励起光―発光イメージング可能
  • 測定温度制御可能励起： 700 - 1000 nm
  • 蛍光：1100-2000 nm
  • 設置場所　 伊都キャンパス ウエスト3号館 612
 

設備利用料金

データ提供「有」　利用料 1,200円 データ提供「有」　技術代行料 4,400円
データ提供「無」　利用料 1,400円 データ提供「無」　技術代行料 5,200円
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核磁気共鳴吸収装置

メーカー・型番

Bruker
AVANCE NEO 400
 

仕様

  • 測定核：1H、13C、11B、19F、31P　その他
  • 温度範囲： -150℃～+150℃
  • 各種二次元スペクトル、温度可変スペクトルも測定可能
  • 設置場所　 伊都キャンパス ウエスト3号館 109
 

設備利用料金

データ提供「有」　利用料 3,500円 データ提供「有」　技術代行料 6,400円
データ提供「無」　利用料 4,100円 データ提供「無」　技術代行料 7,500円
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MALDI-TOF　MS質量分析装置

メーカー・型番

Bruker
Autoflex max
 

仕様

  • ペプチドやタンパク質の同定や、配列解析
  • 分子の質量から、有機化合物の同定
  • 合成高分子の分子量分布や、末端構造などの解析
  • 分解能 26,000 FWHM（分子量 3147 m/z において）
  • 質量範囲　最大500,000まで
  • 質量精度　2（内部標準）ppm
  • レーザー smartbeam II
  • レーザー周波数 LRF：2,000Hz（MS）
  • TOF/TOF：2,000（MS）200
  • リニア、高分解能リフレクトロン、MS/MS 測定が可能
  • 設置場所　 伊都キャンパス ウエスト3号館 114
 

設備利用料金

データ提供「有」　利用料 2,600円 データ提供「有」　技術代行料 5,400円
データ提供「無」　利用料 3,000円 データ提供「無」　技術代行料 6,400円
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分離用小型超遠心機

メーカー・型番

日立工機
CS100GXL
 

仕様

  • 最高回転数100,000 rpm，加速度604,000 x g
 
  • 設置場所　 伊都キャンパス ウエスト3号館 612
 

設備利用料金

データ提供「有」　利用料 360円 データ提供「有」　技術代行料 3,700円
データ提供「無」　利用料 430円 データ提供「無」　技術代行料 4,300円
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走査型プローブ顕微鏡

メーカー・型番

島津製作所
SPM9600
 

仕様

  • 分解能 水平0.2 nm　垂直0.01 nm
  • 測定モード ：コンタクト、ダイナミック、位相
  • 設置場所　 伊都キャンパス ウエスト3号館 113
 

設備利用料金

データ提供「有」　利用料 1,300円 データ提供「有」　技術代行料 4,600円
データ提供「無」　利用料 1,500円 データ提供「無」　技術代行料 5,400円
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環境制御型多機能走査プローブ顕微鏡

メーカー・型番

エスアイアイ・ナノテクノロジー
SPI3800N
 

仕様

  • 環境：大気中、液中、真空中、ガス雰囲気
  • 温度制御: 自動加熱・冷却 (-120～250℃)　
  • 位相、摩擦、粘弾性、電流、etc.
  • 設置場所　 伊都キャンパス ウエスト3号館 111
 

設備利用料金

データ提供「有」　利用料 420円 データ提供「有」　技術代行料 3,900円
データ提供「無」　利用料 500円 データ提供「無」　技術代行料 4,600円
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超高分解能走査電子顕微鏡

メーカー・型番

日立ハイテクノロジーズ
SU9000
 

仕様

  • SEM （空間分解能0.4nm）とSTEM （空間分解能0.34 nm）の高分解能同視野観察
  • 30 kV以下の低加速観察
  • コールドFE電子銃
  • EDSによる高解像度元素マッピング
  • 含水サンプルの凍結観察個体表面における原子の分布を高分解能マッピング
  • 設置場所　 伊都キャンパス ウエスト3号館 114
 

設備利用料金

データ提供「有」　利用料 1,700円 データ提供「有」　技術代行料 5,000円
データ提供「無」　利用料 2,000円 データ提供「無」　技術代行料 5,900円
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3次元SEM画像測定解析システム

メーカー・型番

KEYENCE
VE-8800
 

仕様

  • 加速電圧0.5 - 20 kV
  • さまざまな有機／無機／複合材料表面構造解析
  • 低加速電圧観察可能 (0.5 kV)
  • 非導電性試料でも非蒸着で観察可能
  • 設置場所　 伊都キャンパス ウエスト3号館 114
 

設備利用料金

データ提供「有」　利用料 1,200円 データ提供「有」　技術代行料 4,500円
データ提供「無」　利用料 1,500円 データ提供「無」　技術代行料 5,300円
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透過型電子顕微鏡システム

メーカー・型番

日本電子
JEM-2010
 

仕様

  • 最高加速電圧：120 kV、点分解能：0.23 nm
  • 設置場所　 伊都キャンパス ウエスト3号館 112
 

設備利用料金

データ提供「有」　利用料 980円 データ提供「有」　技術代行料 4,300円
データ提供「無」　利用料 1,200円 データ提供「無」　技術代行料 5,100円
 
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ウルトラミクロトーム

メーカー・型番

Leica
EM UC7
 

仕様

  • 薄片試料の作成に最適
  • 実体顕微鏡
  • 室温のみ対応
  • 設置場所　 伊都キャンパス ウエスト3号館 116

    ※　透過型電子顕微鏡システムをご利用の方のみ使用可能
 

設備利用料金

データ提供「有」　利用料 1,700円 データ提供「有」　技術代行料 4,700円
データ提供「無」　利用料 2,000円 データ提供「無」　技術代行料 5,500円
 
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マイクロ構造観察電子顕微鏡システム

メーカー・型番

日本電子
大気圧走査電子顕微鏡　JASM-6200
 

仕様

  • 液中観察（大気圧下観察）
  • ×10～100,000倍観察
  • 明視野、蛍光観察（光学顕微鏡）
  • 電磁2段ズームコンデンサレンズ
  • 設置場所　 伊都キャンパス ウエスト3号館 114
 

設備利用料金

データ提供「有」　利用料 3,300円 データ提供「有」　技術代行料 6,700円
データ提供「無」　利用料 3,900円 データ提供「無」　技術代行料 7,900円
 
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ゼータ電位／粒径測定システム

メーカー・型番

大塚電子
ELSZ-2
 

仕様

  • 粒子径測定範囲（0.6 - 7000 nm）
  • ゼータ電位測定範囲（-200 - 200 mV）
  • 測定濃度範囲：粒径0.00001 - 40%
  • ゼータ電位濃度範囲：0.001 - 40%
  • 希薄、濃厚試料対応
  • 温調機能搭載、ゼータ電位の低誘電率溶媒測定対応
  • 平板試料用セルを用いた基板・フィルムのゼータ電位測定可能
  • 設置場所　 伊都キャンパス ウエスト3号館 607
 

設備利用料金

データ提供「有」　利用料 1,300円 データ提供「有」　技術代行料 4,500円
データ提供「無」　利用料 1,500円 データ提供「無」　技術代行料 5,300円
 
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全自動水平型多目的Ｘ線回折装置

メーカー・型番

リガク
SmartLab
 

仕様

 
  • シンチレーションカウンターおよびD/TEX検出器搭載
  • CALSA 超高分解スパイラルアナライザ
  • 粉末サンプルの定性分析・結晶化度評価・結晶子サイズ可能
  • 設置場所　 伊都キャンパス ウエスト3号館 115
 

設備利用料金

データ提供「有」　利用料 2,500円 データ提供「有」　技術代行料 5,800円
データ提供「無」　利用料 3,000円 データ提供「無」　技術代行料 6,900円
 
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単結晶X線解析装置

メーカー・型番

リガク
MicroMax-007HF
 

仕様

  • 高輝度迅速型のＸ線単結晶構造解析装置。
  • 微小焦点化・高輝度化されており迅速な測定、微小試料の測定が可能。
  • X線集光ミラーにVariMax、X線検出部にHypix-6000搭載
  • 低温吹付装置（窒素）で温度制御可能。
  • 設置場所　 伊都キャンパス ウエスト3号館 115
 

設備利用料金

データ提供「有」　利用料 950円 データ提供「有」　技術代行料 3,900円
データ提供「無」　利用料 1,200円 データ提供「無」　技術代行料 4,600円
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小角X線散乱装置

メーカー・型番

リガク
NANO-Viewer　KMYC
 

仕様

  • 半導体直接検出型2次元検出器PILATUS100K/R搭載
  • バルクサンプルの数nm~数百nm程度の構造評価が可能
  • 薄膜サンプルの配向評価が可能
  • 3 msecでの高速読み取りが可能
  • 設置場所　 伊都キャンパス ウエスト3号館 115
 

設備利用料金

データ提供「有」　利用料 1,100円 データ提供「有」　技術代行料 4,000円
データ提供「無」　利用料 1,300円 データ提供「無」　技術代行料 4,700円
 
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分子構造解析システム

仕様

生体分子や高分子材料のシミュレーションおよび可視化のために必要なシステムを、並列コンピューティングおよびGPUコンピューティングにより稼働している。非経験的分子軌道法、密度汎関数理論計算プログラム、分子動力学といった様々な手法によるモデリング、計算、解析が可能である。
  • 伊都キャンパス ウエスト3号館 615
 
 

設備利用料金

データ提供「有」　利用料 360円 データ提供「有」　技術代行料 3,700円
データ提供「無」　利用料 420円 データ提供「無」　技術代行料 4,300円
 
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ナノ炭素燃料電池評価システム

メーカー・型番

東陽テクニカ
自動CV型燃料電池評価システム　AutoPEM-ER02型、燃料電池評価システム　AutoPEM-ER01型
 

仕様

  • 燃料供給装置H2ガス1000 Ncc/min ～、Air 2000 Ncc/min～）
  • DC分極電圧5 V～、電流±2 A～、自動電圧スイープ6 mV～60 V/min
  • 測定分解能：電流～1pA,電圧～1μV
  • 設置場所　 伊都キャンパス ウエスト4号館 112
 

設備利用料金

データ提供「有」　利用料 380円 データ提供「有」　技術代行料 3,900円
データ提供「無」　利用料 450円 データ提供「無」　技術代行料 4,500円
 
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メーカー・型番

テスター産業
高精度ホットプレス SA-501
 
  • 設置場所　 伊都キャンパス ウエスト3号館 115
 

設備利用料金

データ提供「有」　利用料 380円 データ提供「有」　技術代行料 3,900円
データ提供「無」　利用料 450円 データ提供「無」　技術代行料 4,500円
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触媒活性表面測定システム

メーカー・型番

日本ベル
自動比表面積/細孔分布測定装置 BELSORP-mini II
 

仕様

  • 定容量式窒素ガス吸着法
  • 最大3検体同時測定 （1つは参照）
  • （比表面積：0.01 m2/g～、細孔径分布0.7～200 nm）
  • 解析プログラム：吸着等温線、BET比表面積自動解析、tプロット法等
  • 圧力計5台、0～133kPa、±0.25%
  • 圧力分解能 4Pa
  • 設置場所　 伊都キャンパス ウエスト3号館 112
 

設備利用料金

データ提供「有」　利用料 440円 データ提供「有」　技術代行料 3,900円
データ提供「無」　利用料 520円 データ提供「無」　技術代行料 4,600円
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メーカー・型番

日本ベル
触媒分析装置　BELCAT-B
 

仕様

 
  • 流通法 （室温～1200 ℃）TCD検出器
  • 設置場所　 伊都キャンパス ウエスト3号館 112
 

設備利用料金

データ提供「有」　利用料 440円 データ提供「有」　技術代行料 3,900円
データ提供「無」　利用料 520円 データ提供「無」　技術代行料 4,600円
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ガス吸着装置

メーカー・型番

マイクロトラックベル
BELSORP-max-12-SP
 

仕様

  • 定容量式ガス吸着法
  • 最大3検体同時測定
  • 比表面積：0.01 m2/g ～ (N2)
  • 細孔径分布：0.35 - 500 nm
  • N2、CO2、その他の非腐食性ガス
  • 解析プログラム：吸着等温線、BET比表面積自動解析、tプロット法等
  • 設置場所　 伊都キャンパス ウエスト3号館 112
 

設備利用料金

データ提供「有」　利用料 450円 データ提供「有」　技術代行料 4,900円
データ提供「無」　利用料 530円 データ提供「無」　技術代行料 5,800円
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CCDマルチICP発光分光分析装置

メーカー・型番

独国SPECTRO
ARCOS EOP 130
 

仕様

  • タイプ 多元素同時（マルチ）：ポリクロメーター
  • 多元素同時（マルチ）：ポリクロメーター
  • マウント方式    トリプル・パッシェンルンゲ
  • 波長範囲    130 ～ 770 nm
  • UVシステム （200 nm以下の測定システム） UV－PLUS （連続ガスパージ不要）
  • クリーンカートリッジ交換：2年に1回
  • 焦点距離    750 mm
  • 回折格子    3,600本/mm　2式、 1,800本/mm　1式
  • 次光    1次光（全波長範囲）
  • 検出器    リニアCCDアレイ
  • 設置場所　 伊都キャンパス ウエスト3号館 116
 

設備利用料金

データ提供「有」　利用料 3,100円 データ提供「有」　技術代行料 5,600円
データ提供「無」　利用料 3,600円 データ提供「無」　技術代行料 6,600円
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マイクロカロリメーター

メーカー・型番

MicroCal
PEAQ-ITC
 

仕様

  • 溶液中の分子間相互作用をダイレクトに測定
  • サンプルのラベル化、および固定化が不要
  • 分子量の制限なし
  • 解離定数（KD）と熱力学的パラメータ（ΔG,ΔH,ΔS）の取得
  • サンプル充填、セル洗浄など全機能を完全自動制御（PEAQ-ITC Automated）
  • 設置場所　 伊都キャンパス ウエスト3号館 113
 

設備利用料金

データ提供「有」　利用料 2,400円 データ提供「有」　技術代行料 5,200円
データ提供「無」　利用料 2,800円 データ提供「無」　技術代行料 6,100円
 
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極微小単結晶電子線回折システム

メーカー・型番

リガク
XtaLAB Synergy-ED

 

仕様

  • 電子線源：熱電子放出型電子銃（Lab6）
  • 最高加速電圧：200kV
  • 電子線照射量：0.01e-/Å2/sec以下での測定が可能
  • 解析可能な結晶軸の長さ：60Å以上の結晶軸を持つ試料の構造解析が可能
  • 試料室：試料移動付き4軸（X,Y,Z,X傾斜）ゴニオメーター、ユーセントリックハイトが調整された試料ステージにおいて、データ測定の際に測定対象の試料を常に電子線照射領域内に保持可能
  • 傾斜角：X軸傾斜±80°
  • 検出器：直接検出型フォトンカウンティング方式
  • 検出面積：77.5 × 36.5 mm2
  • 最大フレームレート：131fps（16bit読出時）
  • ピクセルサイズ：100 × 100 μm2
  • 最大計数率（ダイナミックレンジ）> 1 × 106 cps/pixel
  • 試料室の最高到達真空度：2.0×10-5Pa
  • 設置場所　 伊都キャンパス ウエスト3号115
 

設備利用料金（ご利用開始は令和7年10月予定）

データ提供「有」　利用料 ―　円 データ提供「有」　技術代行料 ―　円
データ提供「無」　利用料 ―　円 データ提供「無」　技術代行料 ―　円
 
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